薄膜的厚度是否均勻一致，是檢測(cè)薄膜各項(xiàng)性能的基礎(chǔ)。很顯然，倘若一批單層薄膜的厚度不均勻，不但會(huì)影響到薄膜各處的拉伸強(qiáng)度、阻隔性能等指標(biāo)，更會(huì)影響薄膜的后續(xù)加工。此外，對(duì)產(chǎn)品的厚度采取合理的控制，不但能夠提高產(chǎn)品質(zhì)量，還能降低材料的消耗，提高生產(chǎn)效率。因此，薄膜厚度是否均勻，是否與預(yù)設(shè)值一致，厚度偏差是否在****范圍之內(nèi)，這些都稱為薄膜是否能夠具有某些特性指標(biāo)的重要前提。薄膜厚度測(cè)量是薄膜制造業(yè)的基礎(chǔ)檢測(cè)項(xiàng)目之一。

但是，市面上的薄膜測(cè)厚設(shè)備種類繁多，您在選購(gòu)上面是否選擇了合適的測(cè)厚儀呢？

塑料薄膜厚度的測(cè)試zui早用于薄膜厚度測(cè)量的是實(shí)驗(yàn)室測(cè)厚技術(shù)，即在實(shí)驗(yàn)室進(jìn)行薄膜取樣，進(jìn)行厚度檢測(cè)以獲取薄膜的厚度數(shù)據(jù)。之后，隨著技術(shù)的不斷發(fā)展，逐漸研發(fā)出可以能夠在薄膜生產(chǎn)線上使用的在線測(cè)厚設(shè)備。在線測(cè)厚儀技術(shù)與非在線測(cè)厚技術(shù)在測(cè)試原理上完全不同，一般來講，在線測(cè)厚儀大多采用射線技術(shù)等非接觸式的測(cè)量犯法，而非在線測(cè)厚技術(shù)一般采用機(jī)械接觸式測(cè)量法或者是基于電渦流、電磁感應(yīng)原理的測(cè)量方法，也有采用光學(xué)測(cè)厚、超聲波測(cè)厚技術(shù)的。

面對(duì)上述如此之多的測(cè)厚方法，企業(yè)在選擇薄膜厚度檢測(cè)設(shè)備的時(shí)候，該作何選擇呢？

1、射線式測(cè)厚儀

射線技術(shù)多用于在線測(cè)厚的設(shè)備上，對(duì)于測(cè)量物要求并不高。但是由于在線測(cè)厚儀需要安裝在薄膜生產(chǎn)線上，由于環(huán)境溫度、大氣壓變化以及生產(chǎn)線中出現(xiàn)的薄膜上下波動(dòng)等情況，對(duì)射線測(cè)厚儀的要求非常高，所以設(shè)備的價(jià)格、后續(xù)的維護(hù)費(fèi)用會(huì)相當(dāng)大。對(duì)于企業(yè)來說，成本會(huì)很高。

2、機(jī)械接觸式測(cè)厚儀

機(jī)械接觸式測(cè)厚儀，它與非接觸式測(cè)厚方法有著本質(zhì)的區(qū)別——測(cè)試時(shí)設(shè)備會(huì)給試樣測(cè)量表面施加一定的壓力（點(diǎn)接觸力或面接觸力），這樣可以避免在使用非接觸式測(cè)厚儀測(cè)量那些具有一定壓縮性、表面高低不平的材料時(shí)可能出現(xiàn)數(shù)據(jù)波動(dòng)較大的現(xiàn)象。機(jī)械接觸式測(cè)厚儀采用的是zui傳統(tǒng)、zui基礎(chǔ)的測(cè)厚方法，數(shù)據(jù)穩(wěn)定可靠，對(duì)試樣沒有選擇性。由于這種測(cè)厚儀的測(cè)試精度主要取決于測(cè)厚傳感器的精度，所以目前市面上的機(jī)械接觸式測(cè)厚儀的測(cè)試精度參差不齊。賽成儀器研發(fā)生產(chǎn)的CHY-CA測(cè)厚儀，采用非常高分辨率0.1μm的傳感器，測(cè)試精度高且數(shù)據(jù)穩(wěn)定性非常好，可適用于各種薄膜、復(fù)合膜、薄片等材料的厚度檢測(cè)。設(shè)備符合符合GB 6672（塑料薄膜和薄片厚度的測(cè)定–機(jī)械測(cè)量法）、GB/T 451.3-2002（紙和紙板厚度的測(cè)定）、GB/T 6547、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817等測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)。企業(yè)需要選購(gòu)非在線測(cè)厚儀的話，可以考慮濟(jì)南賽成儀器科技有限公司的測(cè)厚儀設(shè)備。