PA-300-MT        PA系列是日本Photonic lattice公司傾力打造的雙折射/應力測量儀，PA系列測量雙折射測量范圍達0-130nm，可以測量的樣品范圍從幾個毫米到近500毫米。PA系列雙折射測量儀以其技術的光子晶體偏光陣列片，獨有的雙折射算法設計制造，得到每片樣品僅需幾秒鐘的測量能力，使其成為業(yè)內，特別是工業(yè)界雙折射測量/應力測量的選擇。    主要特點： 操作簡單，測量速度可以快到3秒； 視野范圍內可一次測量，測量范圍廣； 更直觀的讀取數(shù)據(jù)，無遺漏數(shù)據(jù)點； 具有多種分析功能和測量結果的比較； 維護簡單，不含旋轉光學濾片的機構; 高達2056x2464像素的偏振相機。 應用領域： 小尺寸樣品 光學鏡頭 主要技術參數(shù)：    項次            項目             具體參數(shù) 1 輸出項目           相位差【nm】，軸方向【°】，相位差與應力換算（選配）【MPa】   2 測量波長 520nm   3 雙折射測量范圍 0-130nm   4 測量小分辨率 0.001nm   5 測量重復精度 <1nm（西格瑪）   6 視野尺寸 17.5x21mm到33x40mm（標準）   7 選配鏡頭視野 6.3x7.5mm   8 選配功能                 實時解析軟件，鏡片解析軟件，數(shù)據(jù)處理軟件，實現(xiàn)外部控制 測量案例：